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题名:
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半导体器件的可靠性 Ban Dao Ti Qi Jian De Ke Kao Xing / 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 , |
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ISBN:
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15176.128 价格： CNY1.15 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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173页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 重庆 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1977 |
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主题词:
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半导体技术 可靠性试验 |
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中图分类法:
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TN306 版次： 5 |
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主要责任者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所 Zhong Guo Ke Xue Ji Shu Qing Bao Yan Jiu Suo Zhong Qing Fen Suo 编辑 |
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索书号:
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TN306/1 |